COC測試設備

COC 測試設備

LQ-BI114 測試設備是專門針對COC器件的老化測試開發的一款設備。設備主體采用框架式結構,載具采用可分離式“抽屜”形式,每個抽屜可獨立控溫。載具采用標準快插式電氣接口,可根據不同產品設計不同載具在同一平臺內測試。

特點:

※  LQ-BI114老化測試設備適用高功率半導體激光器老化和壽命測試。

※  一個系統具有11個獨立溫層,每層4個抽屜式測試載具,可以同時測試1408顆激光器。

※  系統可同時進行多種獨立測試。

※  系統可測試高功率激光器LIV特性。

※  每個夾具可單獨進行溫度控制,控溫范圍40℃到150℃,溫度穩定性小于1℃。

※  設備軟件具有強大數據記錄,數據備份功能,設備具備MES等多種通訊接口。

 

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