HS-LDTS1000LD芯片測試設備-低溫

LD芯片測試設備(低溫)

HS-LDTS1000 LDchip測試設備是一款用于LD芯片光電性能檢測,可測試長波長激光器(-40℃至-90℃溫度條件下)的前光、背光的LIV參數和光譜參數,設備自動化程度高,圖像算法智能,支持正面及端面AOI外觀檢測&OCR字符識別,有利于生產企業提高測試效率,提高產品的品質把控。

特點:

※ 上下料,測試及分選全過程完全全自動進行。

※   超高清CCD視覺雙視野定位系統,可自動識別芯片排列角度及位置

※   搭載自研高速LIV測試系統,實現高速前光和背光LIV同步高效測試,同時匹配橫河光譜儀也可進行光譜測試

※   溫控系統采用高效TEC,可滿足芯片在-40℃、+25℃、+90℃的測試需求

※    支持正面及端面AOI外觀檢查&OCR字符識別

※    可對產品進行等級分類收納

※    I-L、FFP、λ特性為基本測試項目。如有需求,亦可靈活對應各種特殊測試

※    設備與測試儀器通訊及算法為本公司獨立開發

※    設備具備自動校準功能,可保證測試數據準確

 

 

 

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